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 Wesen des Lichts
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 Impressum

Geräte/Mikroskope für den Blick in die Mikro- und Nanowelt:

Oberflächen-Messsensor zur optischen und topographischen Untersuchung:

TFork-web

Prinzipskizze zur hochauflösenden Nahfeldspektroskopie (Stichwort: optische Nahfeldmikroskopie):

Nanoanalytik-SNOM-web

Prinzipskizze zur hochauflösenden Rasterkraftmikroskopie (engl.: Scanning Force Microscopy bzw. Atomic Force Microscopy, AFM):

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